Studi

 

2003 | Politecnico Torino

Dottorato di Ricerca in Ingegneria Informatica e Sistemi

Tesi di dottorato:
High-Level Test of Electronic Systems

 

1999 | Politecnico Torino

Concorso di Dottorato in Ingegneria Informatica e Sistemi
Vinto con borsa di studio

 

1999 | Politecnico Torino

Esame di Stato per l’abilitazione alla professione di Ingegnere
Superato nella Prima Sessione

 

1998 | Politecnico Torino

Laurea in Ingegneria Elettronica
Votazione 96/110

Tesi di laurea:
Applicazione di algoritmi evolutivi al collaudo e alla verifica di sistemi digitali descritti ad alto livello

Tesi di ricerca svolta all’interno del gruppo CAD del dipartimento di Automatica Informatica nell’ambito del progetto europeo FOST

 

1989 | Liceo San Giuseppe Torino

Maturità scientifica
Votazione 52/60

 

Lingue straniere

Ottima conoscenza della lingua inglese

 

Pubblicazioni

RT-level Fault Simulation Techniques based on Simulation Command Scripts
F. Corno, Gianluca Cumani, M. Sonza Reorda, G. Squillero
DCIS2000: XV Conference on Design of Circuits and Integrated Systems, Le Corum, Montpellier, November 21-24, 2000, pp. 825-830

An RT-level Fault Model with High Gate Level Correlation
F. Corno, Gianluca Cumani, M. Sonza Reorda, G. Squillero
HLDVT2000: IEEE International High Level Design Validation Workshop, The Claremont Resort & Spa, Berkeley, California, November 8-10 2000

ARPIA: a High-Level Evolutionary Test Signal Generator
F. Corno, Gianluca Cumani, M. Sonza Reorda, G. Squillero
EvoIASP2001: 3rd European Workshop on Evolutionary Computation applications to Image Analysis and Signal Processing, Como (Italy), April 20, 2001, pp. 298-306

Effective Techniques for High-Level ATPG
F. Corno, Gianluca Cumani, M. Sonza Reorda, G. Squillero
ATS2001: IEEE Asian Test Symposium, 2001, pp. 225-230 (Best Paper)

Devising an RT-Level ATPG for mProcessor Cores
F. Corno, Gianluca Cumani, M. Sonza Reorda, G. Squillero
WRTLT2001: 2nd Workshop on RTL, ATPG & DFT, Nara, Japan, November 22-23, 2001

Automatic Test Program Generation from RT-level Microprocessor Descriptions
F. Corno, Gianluca Cumani, M. Sonza Reorda, G. Squillero
ISQED2002: 3rd International Symposium on Quality Electronic Design, March 18-21, 2002, San Jose, California, USA, pp. 120-125

Efficient Machine-Code Test-Program Induction
F. Corno, Gianluca Cumani, M. Sonza Reorda, G. Squillero
CEC2002: Congress on Evolutionary Computation, Honolulu, Hawaii (USA), pp. 1486-1491

Evolutionary Test Program Induction for Microprocessor Design Verification
F. Corno, Gianluca Cumani, M. Sonza Reorda, G. Squillero
ATS02: IEEE Asian Test Symposium, Guam (USA), 2002

Automatic Test Program Generation for Pipeline Processors
F. Corno, Gianluca Cumani, M. Sonza Reorda, G. Squillero
SAC03: Symposium on Applied Computing Melbourne, Florida(USA), 2003

Fully Automatic Test Program Generation for Microprocessor Cores
F. Corno, Gianluca Cumani, M. Sonza Reorda, G. Squillero
DATE2003: Design, Automation and Test in Europe, Munich, Germany, March 3-7, 2003